دانلود مقاله انگلیسی رایگان:PUF قابل اعتماد در SRAM با عملکرد دوگانه - 2019
بلافاصله پس از پرداخت دانلود کنید
دانلود مقاله انگلیسی رمزنگاری رایگان
  • A reliable PUF in a dual function SRAM A reliable PUF in a dual function SRAM
    A reliable PUF in a dual function SRAM

    سال انتشار:

    2019


    عنوان انگلیسی مقاله:

    A reliable PUF in a dual function SRAM


    ترجمه فارسی عنوان مقاله:

    PUF قابل اعتماد در SRAM با عملکرد دوگانه


    منبع:

    Sciencedirect - Elsevier - Integration, 68 (2019) 12-21: doi:10:1016/j:vlsi:2019:06:001


    نویسنده:

    Mohd Syafiq Mispan a,b, Shengyu Duana, Basel Halaka, Mark Zwolinski a,∗


    چکیده انگلیسی:

    The Internet of Things (IoTs) employs resource-constrained sensor nodes for sensing and processing data that require robust, lightweight cryptographic primitives. The SRAM Physical Unclonable Function (SRAM-PUF) is a potential candidate for secure key generation. An SRAM-PUF is able to generate random and unique cryptographic keys based on start-up values by exploiting intrinsic manufacturing process variations. The reuse of the available on-chip SRAM memory in a system as a PUF might achieve useful cost efficiency. However, as CMOS technology scales down, aging-induced Negative Bias Temperature Instability (NBTI) becomes more pronounced resulting in asymmetric degradation of memory bit cells after prolonged storage of the same bit values. This causes unreliable start-up values for an SRAM-PUF. In this paper, the on-chip memory in the ARM architecture has been used as a case study to investigate reliability in an SRAM-PUF. We show that the bit probability in a 32-bit ARM instruction cache has a predictable pattern and hence predictable aging. Therefore, we propose using an instruction cache as a PUF to save silicon area. Furthermore, we propose a bit selection technique to mitigate the NBTI effect. We show that this technique can reduce the predicted bit error in an SRAM-PUF from 14.18% to 5.58% over 5 years. Consequently, as the bit error reduces, the area overhead of the error-correction circuitry is about 6 × smaller compared to that without a bit selection technique.
    Keywords: Aging | Physical unclonable function | SRAM | Reliability


    سطح: متوسط
    تعداد صفحات فایل pdf انگلیسی: 10
    حجم فایل: 1141 کیلوبایت

    قیمت: رایگان


    توضیحات اضافی:




اگر این مقاله را پسندیدید آن را در شبکه های اجتماعی به اشتراک بگذارید (برای به اشتراک گذاری بر روی ایکن های زیر کلیک کنید)

تعداد نظرات : 0

الزامی
الزامی
الزامی
rss مقالات ترجمه شده rss مقالات انگلیسی rss کتاب های انگلیسی rss مقالات آموزشی