دانلود مقاله انگلیسی رایگان:فناوری تست THz VLSI با قدرت هوش مصنوعی - 2020
دانلود بهترین مقالات isi همراه با ترجمه فارسی
دانلود مقاله انگلیسی هوش مصنوعی رایگان
  • AI Powered THz VLSI Testing Technology AI Powered THz VLSI Testing Technology
    AI Powered THz VLSI Testing Technology

    سال انتشار:

    2020


    عنوان انگلیسی مقاله:

    AI Powered THz VLSI Testing Technology


    ترجمه فارسی عنوان مقاله:

    فناوری تست THz VLSI با قدرت هوش مصنوعی


    منبع:

    IEEE - 2020 IEEE 29th North Atlantic Test Workshop (NATW);2020; ; ;


    نویسنده:

    Naznin Akter , Mustafa Karabiyik , Michael Shur , John Suarez , Nezih Pala


    چکیده انگلیسی:

    Abstract—Increasing complexity of digital and mixed-signal systems makes establishing the authenticity of a chip to be a challenging problem. We present a new terahertz testing technique for non-destructive identification of genuine integrated circuits, in package, in-situ and either with no or under bias, by measuring their response to scanning terahertz and sub-terahertz radiation at the circuit pins. This novel, patent pending non-invasive nondestructive technology when merged with Artificial Intelligence (AI) engine will evolve and self-improve with each test cycle. By establishing and AI processing of the THz scanning signatures of reliable devices and circuits and comparing this signatures with devices under test using AI, this technology could be also used for reliability and lifetime prediction.
    Keywords: Terahertz | hardware cybersecurity | reliability | authentication | artificial intelligence


    سطح: متوسط
    تعداد صفحات فایل pdf انگلیسی: 5
    حجم فایل: 1470 کیلوبایت

    قیمت: رایگان


    توضیحات اضافی:




اگر این مقاله را پسندیدید آن را در شبکه های اجتماعی به اشتراک بگذارید (برای به اشتراک گذاری بر روی ایکن های زیر کلیک کنید)

تعداد نظرات : 0

الزامی
الزامی
الزامی
rss مقالات ترجمه شده rss مقالات انگلیسی rss کتاب های انگلیسی rss مقالات آموزشی
logo-samandehi